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原位材料光譜學(xué)系統(tǒng)是根據(jù)實際科研需求所設(shè)計和開發(fā)的，針對材料在不同溫度環(huán)境的原位光譜學(xué)表征系統(tǒng)。該系統(tǒng)主要由透射式X射線衍射裝置及其他原位附件所構(gòu)成。

透射式X射線衍射裝置在該系統(tǒng)中主要負責(zé)采集各類材料在不同溫度環(huán)境條件（不同力學(xué)影響條件下）的原位XRD數(shù)據(jù)，通過分析該類具有時間分辨的原位XRD數(shù)據(jù)，獲取到材料的晶體結(jié)構(gòu)變化信息和相結(jié)構(gòu)變化信息。

X光源能量高穿透力強 

可實現(xiàn)秒級時間分辨 

X射線源與探測器主要技術(shù)參數(shù)

1. 透射式X射線衍射模式；

 2.X射線管：2 - 60 kV, 2 - 80 mA, max. 1.6 kW ；

 3.配備60kv高壓線，3-5m長；   

 4.配備4個 Be窗口；

 5.X射線光源靶材：Ag靶能量：>=16kev；

 6.X射線光斑尺寸：<=0.4*0.4mm；

 7.配備二維面探作為X射線衍射信號收集裝置；

 8.具備秒級時間分辨；

 9.適用X射線散射和衍射信號收集功能