北京中研環(huán)科
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一、產(chǎn)品簡介:
原位高低溫XRD反應(yīng)裝置(HLT-XRD-N)是一款專門為低溫條件下利用實驗室X射線衍射儀來探測樣品物相結(jié)構(gòu)變化而設(shè)計的原位裝置。該原位裝置可匹配商業(yè)衍射儀,可實現(xiàn)樣品在低溫下的物相反應(yīng)監(jiān)測。該裝置主要包含有主體原位池、溫控系統(tǒng)等多個部件及相關(guān)配件。采用液氮制冷對低溫樣品進行制冷,通過熱傳導(dǎo)的制冷方式,確保樣品處于恒溫點,溫度范圍為-180℃-300°該原位裝置十分適用于不同材料在低溫下的物相結(jié)構(gòu)研究,是材料科學(xué)領(lǐng)域、能源化學(xué)領(lǐng)域等眾多研究領(lǐng)域的有力輔助手段之一。
二、主要特點:
1. 原位高低溫XRD 反應(yīng)裝置適用于低溫環(huán)境下粉末樣品的物相結(jié)構(gòu)追蹤、監(jiān)測;
2. 該原位裝置主要包括主體原位池(內(nèi)置制冷組件)、液氮制冷系統(tǒng)、溫控系統(tǒng)等多個部件及相關(guān)配件;
3. 該原位裝置可適配各品牌商業(yè)X射線衍射儀的光路系統(tǒng),也可依據(jù)客戶現(xiàn)有光路進行調(diào)整適配;
4. 樣品可為粉末樣品,直接放置在冷臺上;
5. X射線探測角度范圍:5<2θ<160°;
6. 該裝置采用液氮制冷對樣品進行制冷,采用熱傳導(dǎo)的方式對樣品進行加熱,保證樣品處的溫度均勻;
7. 溫度控制范圍:-180-300°;控制精度:±1℃,采用程序控制;
8. 樣品臺采用銅加工而成,溫度探測器為Pt100,置于冷臺邊;
裝置窗口標配高分子球,能夠承受不高于1 個大氣壓的氣壓條件和低真空環(huán)境;也可選擇付費金屬鈹球,承受不同氣壓。